利用料金



物理分析関係A

機 器 名 -- 学内限定 --
利用料金 (円)
備 考 係 数
透過型電子顕微鏡
JEM-2100F
 2,000/半日 a
電界放出型走査型電子顕微鏡
JSM-7600FA
 1,000/半日 a
電界放出形走査電子顕微鏡
SU8000
 1,000/半日 a
電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800
 2,500/半日 a
卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000
 800/時間 a
試料水平型多目的X線回折装置
UltimaⅣ
 1,000/半日 a
ナノスケールX線構造評価装置
NANO-Viewer
 1,000/半日 a
単結晶X線構造解析装置
Saturn724
 2,000/半日 a
単結晶X線構造解析装置
R-Axis Rapid
 2,000/半日 a
蛍光X線分析装置
EDXL 300
 1,000/2時間 a
FIB(集束イオンビーム)装置
JEM-9320FIB
 2,000/半日 a
精密イオンポリシングシステム
Model 691 PIPS
 1,000/半日 a
レーザー描画装置
DWL66FS
 1,000/半日
EB描画装置
ELS-7500
 1,000/半日
ウルトラミクロトーム
LEICA ULTRACUT
 1,000/1日 a
クロスセクションポリッシャー
SM−09010
 1,000/半日 a

■ 利用料について (学内利用)

 年度ごとに利用責任者1人当たり、機器の種類にかかわらず 30,000円 の基本料金を校費からの振替により徴収する。 各機器の1回あたりの利用料金は上記表のとおりとする。
ただし、学外共同研究員の場合は、共同研究費に利用料を計上するものとし、 別途に利用料を徴収しない。

物理分析関係A 係数表
利 用 者 係数 a
山形大学から大学発ベンチャーの認定を受けている者 2.0
学内利用 1.0


化学分析関係

機 器 名 -- 学内限定 --
利用料金 (円)
備 考
NMR
JNM-ECZ600R/M1(JEOL)
 600/1時間
NMR
JNM-EC500 (JEOL)
 600/1時間
NMR
JNM-ECA400 (JEOL)
 600/1時間
NMR
JNM-ECA400 (JEOL)
 600/1時間
FTーIR
460Plus (JASCO)
 500/1時間
LCーTOF MS
JSM-T100LC (JEOL)
 500/1時間
GCーTOF MS
JSM-T100GC (JEOL)
 500/1時間
CD
J820 (JASCO)
 300/1時間
ICPーMS
DRC II (ELAN)
 2,500/1時間
CHN / CHNS/O
2400 II (Perkin Elmer)
 3,000/1試料 粘性物質・昇華性物質・液体試料については 別途1,000円 徴収

■ 利用料について (学内利用)

 年度ごとに利用責任者1人当たり、機器の種類にかかわらず 30,000円 の基本料金を校費からの振替により徴収する。 各機器の1回あたりの利用料金は上記表のとおりとする。
ただし、学外共同研究員の場合は、共同研究費に利用料を計上するものとし、 別途に利用料を徴収しない。



物理分析関係B

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
超精密5軸ナノ加工機
ROBONANO α-01iB
80,000
/1日
100,000
/1日
140,000
/1日
a
熱ナノインプリント実験装置
HNP-1型
50,000
/1日
70,000
/1日
110,000 /1日 a
小型UVインプリント実験装置
CMT-120U
50,000
/1日
70,000
/1日
110,000
/1日
a
3D測定レーザー顕微鏡
LEXT OLS4000
2,000
/1時間
3,000
/1時間
5,000
/1時間
b
多機能SPM
5500 Scanning Probe Microscope
1,000
/1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
b
全自動水平型多目的X線回折装置
SmartLab
40,000
/1日
50,000
/1日
70,000
/1日
b
露光装置
UX-3200SM-ARX01
30,000
/1日
50,000
/1日
90,000
/1日
a
物理分析関係B 係数表
利 用 者 係数 a 係数 b
ネットワーク外部・民間企業 1.0 1.0
学術研究機関・共同研究機関 0.5 0.5
学内利用 0.1 0.2

・超精密5軸ナノ加工機に必要な工具は各自用意すること。

・ロールtoロール式熱ナノインプリント実験装置 及び ロールtoロール式小型UVインプリント実験装置に必要な使用樹脂は 各自用意すること。



国際科学イノベーション拠点整備事業関係

成膜・印刷機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
真空成膜装置 10,000
/1日
20,000
/1日
50,000
/1日
a
原子層堆積装置 10,000
/1日
20,000
/1日
50,000
/1日
a
高精細印刷試験装置 60,000
/1日
300,000
/1日
a
ロールtoロール印刷装置 100,000
/1日
500,000
/1日
a
コンビナトリアル 成膜装置用蒸着装置 60,000
/1日
300,000
/1日
a
OPV用蒸着装置 10,000
/1日
20,000
/1日
50,000
/1日
a
高精度レーザーアニーリング装置
LAS-3747
100,000
/1日
500,000
/1日
a
雰囲気制御モジュール形成装置
Labmaster Pro SP(1800/1000)GB
10,000
/1日
20,000
/1日
50,000
/1日
a

成型・加工機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
プロフェッショナル3Dプリンタ
(石膏パウダータイプ)
ProJet460Plus
10,000
/ 1時間
20,000
/1時間
50,000
/1時間
a
UVインクジェットプリンタ 10,000
/ 1時間
20,000
/1時間
50,000
/1時間
a
レーザー加工機
VLS 4.60
10,000
/ 1時間
20,000
/1時間
50,000
/1時間
a
原子間力顕微鏡システム
MFP-3D-ORIGIN YK
2,500
/ 1時間
5,000
/1時間
10,000
/1時間
a
ナノインプリントリソグラフィー
Eitre-3
50,000
/1日
70,000
/1日
110,000
/1日
a
固定金型式ガラス素子形成装置
GMP-311V
30,000
/1日
50,000
/1日
90,000
/1日
a
多層小型2軸混練押出装置
MFU15TW-45HG-NH(-700)-YMU
30,000
/1日
50,000
/1日
90,000
/1日
a
LSR専用射出成形機
TH40E5VELM
30,000
/1日
50,000
/1日
90,000
/1日
a

材料プロセス機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
微粉砕機
TAP-ULF-1-Y
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
超微粉砕機
JOM-0101Y
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
UVオゾン装置
ー卓上型光表面処理装置ー
SSP16-110
500
/ 1時間
500
/1時間
a
昇華精製装置
NPF80-500
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a

物性測定機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
フーリエ変換型赤外分光光度計
Nicolet iS5 FT-IR,
3,000
/ 1時間
6,000
/1時間
12,000
/1時間
a
ガスクロマトグラフ
Agilent 7820A
2,200
/ 1時間
4,400
/1時間
8,800
/1時間
a
動的接触角計1式
DM-501N1
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
非接触表面形状測定機
NewView 8300 システム
2,000
/ 1時間
3,000
/1時間
5,000
/1時間
a
小型微細形状測定機
ET200s
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
高速液体クロマトグラフィーシステム
PU-2080
2,000
/ 半日
3,000
/ 半日
5,000
/ 半日
a
紫外可視分光光度計
(融解温度Tmの計算機能を除く)
V-730BIO
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
分光放射計
NS-720
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
光合成蒸散測定装置
LCpro-SD 広葉チャンバ付
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
フードレオロジーテスター
FRT-50N
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
水分活性測定装置
AquaLab Seies4TEV
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
食品微生物迅速検査器
DOX-30F
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
多機能型粉体物性測定器
MT-1001kY
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
粒子形状・分布測定器
PITA-3-Y
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a
飛行時間型二次イオン質量分析装置
PHI, TRIFT V nanoTOF-GC
3,000
/ 1時間
5,000
/1時間
30,000
/1時間
a
紫外光膜厚測定システム
F20-UV
1,000
/ 1時間
2,000
/1時間
4,000
/1時間
a

デバイス特性評価機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
OPV寿命評価装置
OAS12
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
IVL特性評価装置
ETS-41
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
OLED寿命評価装置
EAS-26B48
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
分光感度・内部量子効率測定装置
CEP-2000SR
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a

回路設計/評価機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
電磁界解析・高周波設計システム
W2205BP
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
ネットワークアナライザー
E5071C
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
スペクトラムアナライザー
N9010A
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
シグナルジェネレーター
N5172B
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
半導体パラメータアナライザー
B1500A
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
デバイスモデリングソフトウエア
W8500BP
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a

その他の機器

機 器 名 利用料金(円)/ 課金単位
①機器利用 ②技術補助 ③技術代行 係数
没入型多面立体視映像システム (CAVE)
MirageHD6K-M(レンズ含む)、
予備ランプ(200W P-VIP LAMP)等
10,000
/ 半日
20,000
/ 半日
a
4Kシネマビデオカメラ
(XDCAMメモリーカムコーダー)
PXW-FS7
3,000
/ 半日
5,000
/ 半日
10,000
/ 半日
a
BIG-DATA解析システム
VT64Servaer E5-IS XC(V2) 等
10,000
/ 半日
20,000
/ 半日
50,000
/ 半日
a
人工気象室
2連続タイプ
20,000
/ 1日
80,000
/ 1日
a
ハロゲン水分計
HX204
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
窒素ガス発生機
PA-5.2H
1,000
/ 半日
2,000
/ 半日
4,000
/ 半日
a
バイオ高分子合成用グローブボックス
DBO-2LKP-LIMR
2,900
/ 1時間
5,800
/1時間
11,600
/1時間
a
国際科学イノベーション拠点整備事業関係 係数表
利 用 者 係数 a
学外(企業) 1.0
共同研究機関 0.5
学内・他大学・非営利機関 0.1

※ 使用量に応じて別途電気料金が必要になります。



マテリアル先端リサーチインフラ関係機器

機 器 名 利用料金(円)
①機器利用 ②技術補助・代行 係数
ツインドライブ型レオメータ
MCR702-Tg
1,600
/1時間
3,200
/1時間
a
共押出システム
GM25-25EX
1,400
/1時間
2,800
/1時間
a
形状解析レーザ顕微
VK-X100
900
/1時間
1,800
/1時間
a
示差走査熱量計
Q2000
600
/1時間
1,300
/1時間
a
全自動多目的X線回折装置
SmartLab
2,200
/1時間
4,300
/1時間
a
513層多層押出成形金型
レイヤーマルチプライヤー513
1,000
/1時間
2,100
/1時間
a
ポータブルリアクター
TPR-1
500
/1時間
1,000
/1時間
a
力学試験機
T-D
500
/1時間
1,100
/1時間
a
X線非破壊検査装置
TXS-31300FD
1,900
/1時間
3,800
/1時間
a

マテリアル先端リサーチインフラ関係機器 係数表 a
利 用 者 民間企業 学術機関 学内利用
種別 1 0.7 0.2
ARIM事業(利用報告書有、データ公開有) 1
ARIM事業以外(利用報告書無、データ公開無) 2
© 山形大学工学部共同機器分析センター